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  EBSD/EBSP試験片

2016/10/25

EBSD/EBSP試験片

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EBSD/EBSP解析法用試験片

EBSD(後方散乱電子回折)解析法に用いられる試験片を製作いたしました。

EBSD(Electron BackScatter Diffraction)はEBSP(Electron BackScattering Pattern)とも呼ばれます。
EBSD解析法では多くの材質を用いた試験が行われますが、ムソー工業では様々な材質の試験片製作・加工を行っております。
ぜひご相談ください。

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また、希少材からの試験片切り出しなどについては別途記事がございますのでご参照ください。

■■■●●すぎる材料 EPISODE 1
レアすぎる材料