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  SEM用角度付き試料台

2015/07/17

SEM用角度付き試料台

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  • 製品
  • 試験治具

角度付きの試料台を製作致しました。

70度の角度がついており

EBSD(Electron BackScatter Diffraction)解析

EBSP(Electron BackScatter Pattern)解析

にご使用頂けます。

DSC07066